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JEM-3300 CRYO ARM™ 300 II 場發射冷凍透射電子顯微鏡 CRYO ARM™ 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質等對電子束敏感的樣品，可進行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實驗。

JEM-Z200MF無磁場透射電子顯微鏡 JEM-Z200MF是一款無磁場物鏡的電子顯微鏡，可以在不向樣品施加強磁場的情況下實現高分辨率觀察。結合高次像差校正器，可以實現原子級分辨率成像。