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大功率IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1200A-MT 華科智源IGBT電參數測試儀，可用于多種封裝形式的IGBT的測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊、大功率IGBT、大功率雙極型晶體管等器件的VI特性測試，廣泛應用于軌道交通，電動汽車，風力發電，焊機行業的IGBT來料選型和失效分析。測試過程簡單，既可以在測試主機里設置參數直接測試，又可以通過軟件控制主機編程后進行自動測試。

IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224 該設備用于功率半導體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態參數測試，以表征器件的動態特性，通過特制測試夾具的連接，實現模塊的動態參數測試 品牌： 華科智源 名稱： 雙脈沖測試平臺 用途： 測試動態參數

IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1600A-MT華科智源功率器件測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態參數，并生產器件傳輸曲線和轉移曲線，測試1600A，5000V以下的各種功率器件，廣泛應用于器件設計，封裝測試，軌道交通，電動汽車 ，風力發電，變頻器，焊機等行業的IGBT來料選型和失效分析。

博達微FS-Pro半導體參數測試系統是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析設備，在一個系統中實現了電流電壓 (IV) 測試、電容電壓 (CV) 測試、脈沖式 IV 測試、任意線性波形發生與測量、高速時域信號釆集以及低頻噪聲測試能力。

吉時利全自動半導體參數分析儀4200A-SCS參數分析儀加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能電學特性參數分析儀，提供同步電流電壓曲線測試(I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試(C-V曲線測試)和超快脈沖I-V曲線測量。

LET-2000D力鈦科（Letak）半導體靜動態測試系統是滿足IEC60747-8/9、JESD24標準，旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數評估、驅動設計、PCB設計等需要的場合。特別對于應用第三代半導體的需要，有著較高的系統帶寬，可以有效的測量出實際的器件參數。

同惠TH511半導體C-V特性分析儀TH510系列半導體C-V特性分析儀是同惠電子針對半導體材料及器件生產與研發的分析儀器。 TH510系列半導體C-V特性分析儀創新性地采用了雙CPU架構、Linux底層系統、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內置使用說明及幫助等新一代技術，適用于生產線快速分選、自動 化集成測試及滿足實驗室研發及分析。