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致茂Chroma Model11090-030射頻LCR表測試儀產品特色： ●測試參數:Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs,Rp, D,Q ●測試頻率:100kHz~300MHz ●量測范圍:100mΩ~5kΩ ●量測速度:0.5/0.9/2.1/3.7(ms)

Tektronix泰克S530/S540 /S500參數測試系統產品簡介：帶有 KTE 7 軟件的吉時利 S530 系列參數測試系統提供高速、靈活的配置，能夠隨著新應用的出現和需求變化而不斷發展。S530 可進行高達 200 V 的測試，而 S530-HV 可以在任何引腳上進行高達 1100 V 的測試，與競爭解決方案相比，吞吐量提高了 50%。

吉時利Keithley4200A-SCS半導體參數分析儀（參數測試儀）加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能電學特性參數分析儀，提供同步電流電壓曲線測試 (I-V曲線測試)、電容-電壓曲線測試 (C-V曲線測試) 和超快脈沖 I-V曲線測量。

LET-SP802功率半導體參數測試系統是一款測量與分析功率半導體器件靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態參數測量解決方案。LET-SP802半導體測試系統能實現精確測量、分析功率半導體器件的靜態參數。

半導體動態參數測試系統硬件優勢: 1. 采用先發布的12 bit 示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數 2. 采用先發布的光隔離、高CMRR探頭系統，解決SIC/GAN的 測試難點 3. 高帶寬的電壓和電流探測，彌補一般系統對SIC/GAN的測量要求

LET-5000半導體靜態參數測試系統是一款測量與分析功率靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率器件提供靜態參數測量解決方案。

IGCT自動測試系統核心是安規及導通性能測試的訂制化標準測試平臺，其核心是采用了各種儀器儀表（萬用表、內阻測試儀、安規測試儀、電源等）和繼電器板卡、配合測試機柜、產品的定制工裝，利用虛擬儀器技術相關功能進行測試，并將檢測結果保存到本地盤，MES上傳到客戶指定數據庫；測試項目和內容步驟保存到數據庫里面，數據庫包含單步測試功能模塊，儀器測試指令，工號權限，增加和刪除編輯項目可以在數據庫操作界面完成。

KC-3105 第三代功率半導體器件動態可靠性測試系統中可同時完成HTRB和DHTRB測試，整體架構模塊化，通訊協議、通訊接口等采用統一標準，便于后期擴展和維護。該系統集成度高、應用覆蓋面廣，系統采用軟、硬件一體化設計且功能豐富，在保證系統穩定運行的同時，可以快速滿足功率半導體可靠性測試需求。